AFM研讨会
伊利诺伊大学Urbana-Champaign
2019年6月6日

演示木星XR AFM-
一种新的大型AFM成像，可改善分辨率，速度和操作

伊利诺伊大学材料研究实验室将于6月3日至5日举办2019年高级材料表征研讨会。庇护研究是6月4日介绍的计划的一部分，并且在休息期间和6月6日全天提供了新的木星XR原子力显微镜的演示。

新的木星XR原子力显微镜是第一个也是唯一的大型AFM，可在单个扫描仪中提供高速成像和扩展范围。木星提供了200毫米样本访问权限，并提供更高的分辨率，更快的结果，更简单的用户体验以及在学术研究和工业研发实验室中脱颖而出的多功能性。

谁应该参加？

欢迎经验丰富的AFM用户以及经验不足的研究人员。加入我们，进一步了解AFM如何影响您的项目。

登记

6月6日为AFM示威的注册免费，但由于座位有限，所有与会者都必须注册。

如果您想携带样品，请在注册时表明您的兴趣，并与您联系以讨论您的样本并安排时间。

场地

演示
材料研究实验室
伊利诺伊大学Urbana-Champaign
104 South Goodwin Ave. MC 230
乌尔巴纳，伊利诺伊州61801
MRL 0014室

注册2019 AMC研讨会点击这里。

校园地图- 更新

从左到右的图像：外延硅，双极晶体管的绝缘门，聚合物混合物，溶胶 - 凝胶压电薄膜。