AFM研讨会
UPENN-辛格纳米技术中心
2019年6月11日至12日

在大型AFM成像中发现新的视野，以改善分辨率，速度和操作

AFM技术的进步大大改善了大样本原子力显微镜（AFMS）的总体性能。庇护研究邀请您了解新的木星XR XR AFM如何提高AFM测量中的准确性和分辨率，并使许多材料样品（例如薄膜，涂料，设备，聚合物等）更快，更容易成像。行业专家将讨论木星的技术，以获得成功，定量结果及其易于操作。您还可以看到现场演示，并有机会挑选我们的AFM专家的大脑。对于经验丰富的AFM用户以及经验不足的研究人员来说，这是一个绝佳的机会，可以更多地了解AFM如何影响其项目。

登记

注册是免费的，但由于座位有限，所有与会者都必须注册。

如果您想将样本带到公开实验室，请在注册时表明您的兴趣，并与您联系以讨论您的样本并安排时间。有限的景点可用。

场地

讲座
辛格纳米技术中心
Glandt Fourm
3205 Walnut St.，
费城，宾夕法尼亚州19104

示范实验室
辛格纳米技术中心
房间017

校园地图

从左到右的图像：外延硅，双极晶体管的绝缘门，聚合物混合物，溶胶 - 凝胶压电薄膜。