原子力显微镜图像库:纳米电测量

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导电AFM (CAFM) 静电力显微镜扫描微波阻抗显微镜(sMIM) 表面势(KPFM)

导电AFM (CAFM)

DVD记录

SRAM芯片

氧化铝

纳米管

Europium-doped氧化锌

SRAM芯片

有机光伏薄膜

BFO薄膜的PFM和CAFM测量

静电力显微镜

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充电率

PbS量子点

EFM在问

聚丙烯炭黑

金刚石薄膜

扫描微波阻抗显微镜(sMIM)

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利用sMIM对SRAM进行直流电容成像

碳纳米管上的sMIM

半导体器件的sMIM

sMIM敏感性

sMIM数据通道

sMIM显示gate failure

表面势(KPFM)

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双相钢

石墨烯和氮化硼

渗碳聚烯烃薄膜

PbS量子点

硒纳米线

聚合物薄膜的表面电位

Electronic traces

Three trace lines on a PC board (one broken), biased at different voltages, showing the broken trace in the potential. 57µm scan. Imaged with the MFP-3D AFM.

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电子痕迹

数据存储阵列

微凝胶薄膜

偏压电极

PMMA上的电荷分布

PMMA的表面电位

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