材料特性的AFM和EBSD相关成像

原子力显微镜（AFM）可以测量纳米级地形以及一系列电气，机械和功能性。有时有关材料的组成或晶体结构的附加信息可以帮助解释或验证AFM结果。本申请说明呈现了一个AFM和电子背散射衍射用来绘制铜合金中单个晶粒的刚度和模量。

在Asylum Research上采用接触共振模式测量了试件刚度零年代AFM。根据牛津仪器纳米分析对称EBSD检测器测量的晶体取向数据计算样品模量。bob平台下载手机版尽管两种非常不同的技术，但结果彼此相吻合得很好。这个简单的例子演示了与AFM和EBSD相关的相关性成像的可能性。类似的方法可以与其他AFM成像方式和其他SEM / TEM纳米分析工具一起使用，包括能量分散光谱（EDS）。

应用笔记描述：