AFM:探索开发模式和调幅-调频

原子力显微镜(AFM)是一种先进的工具用来描述样本表面与杰出的决议。这避开光学显微镜的扫描探针的方法,包括一个非常锋利的探测器安装在悬臂。这是在表面光栅扫描测量预定义的数量以串行方式。分析师利用原子力显微镜可以测量离散位置的地形,摩擦学,纳米机械和热性能,电子特征等等。

接触模式原子力显微镜测量样本和探针尖端之间的相互作用通过不断跟踪悬臂梁的自由端在光栅扫描过程中被取代。技巧是把接触样本和电子反馈循环确保偏转扫描期间保持不变,记录样品表面形貌的垂直运动。

这可以作为high-lateral部队之间的问题提示和示例将会伤害到我们的样品表面和探针尖端的迟钝。原子力显微镜已经开发出来的新模式来克服这个问题。

利用原子力显微镜模式

在开发模式下afm,锋利的探针针尖在样品表面扫描而不是在不断接触。相反,悬臂振动共振频率附近造成上下摆动。这意味着只探头进入密切接触表面断断续续;因此,标题。

接触模式原子力显微镜测量tip-sample交互力悬臂变形量的函数,这是使用光电二极管检测。在开发模式中,互动测量振幅的变化。都使用一个反馈回路,确保控制常数tip-sample交互部队在光栅扫描获取图像分辨率最高的可能。利用模式原子力显微镜的主要好处是缓解破坏性的横向部队。

开发模式的一个缺点是它不能直接测量力,锁定放大器只能报告一个平均响应与端面交互力的函数。这将创建一个不稳定的反馈情况限制了相关信息,能够可靠地获取和一个特定的示例属性。然而,它仍然是占主导地位的原子力显微镜的成像模式。这主要是由于该不是微不足道的横向自由成像。

随后利用模式是适合成像脆弱的样品不能承受侧向力高的传统联系调查。测量软固体的地貌和有机组织准确和无创性传统操作模式是很严重的问题。正常开发模式有助于快速高分辨率表面复杂样品的成像与巴特表面干扰由于阻力的急剧探针小费。

庇护的研究结合正常开发模式原子力显微镜的固有利益与振幅和频率调制(调幅-调频)提供一个独特的双模式快速复杂样品的光栅扫描的能力。这为地形成像提供了定量估计存储和损失模促进极其准确的粘弹性映射。

这已经添加新层薄膜研究的理解和发展,大量的额外的应用领域。如果你想了解更多,请随意联系直接团队的一名成员。我们很乐意讨论开发模式原子力显微镜更详细地跟你。

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