密码附件:纳米电气特性

扫描电容显微镜(SCM)是一种纳米电成像技术，可用于Cypher和Jupiter XR原子力显微镜，使用微波射频(RF)信号…

ORCA™在Cypher AFMs上提供导电AFM成像和I-V测量功能。标准模块能够测量从~ 1pa到20na的电流。其他当前范围…

用于Cypher AFM的干涉位移传感器(IDS)选项直接测量悬臂挠度，而不是传统光学中使用的悬臂角度。

Cypher AFMs上的HV-PFM选项可以实现压电材料(包括铁电材料和多铁材料)的高灵敏度、高偏置和无串扰测量。工具包包括……

电化学电池(EC Cell)能够表征电化学过程(EC- afm)。该试剂盒包括一个液杯，探针支架，样品支架和标准样品。

sMIM能够在Cypher AFMs上的金属、半导体和绝缘体上实现纳米尺度的介电常数和电导率映射。

NanoTDDB™能够在Cypher AFMs上以纳米级精度表征介质击穿。恒定或倾斜的偏差可达±150 V，同时监测电流通过…

STM可用于导电样品的超高分辨率成像。就像AFM成像一样，STM得益于Cypher系统的特殊稳定性和低漂移。

ESM是一种新型扫描探针显微镜技术，可用于Cypher AFMs，能够以前所未有的分辨率探测固体中的电化学反应和离子流动。