扫描微波阻抗显微镜(sMIM)

显示可能故障点的半导体器件的sMIM图像

sMIM能够在Cypher AFMs上的金属、半导体和绝缘体上绘制纳米尺度的介电常数和电导率图。

提供更高的横向分辨率(10×)
与竞争技术相比，运行速度快80倍，功耗更低

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