庇护研究网络研讨会：AFM薄膜分析工具

描述

薄膜和涂料对于从常见的消费产品到下一代光伏和数据存储至关重要。无论使用如何，通过控制和操纵微观和纳米长度尺度上的材料，都会越来越多地实现膜性能。因此，在相似尺度上测量薄膜结构和特性的需求已相应地增强。

在本网络研讨会中，我们探讨了当今原子力显微镜（AFMS）的强大功能，用于表征薄膜。例如，AFM以其高分辨率地形成像功能而闻名。但是，最近的速度，灵敏度和易用性的改善使其比以往任何时候都更有价值，以量化3D粗糙度和质地。我们涵盖了表面成像和分析的基本概念，并显示了说明性示例。

研究和仪器的进步还产生了各种AFM技术，以表征机电和其他功能响应。我们概述了这些技术，并详细讨论了它们在半导体行业中的内存访问设备中应用的示例。还简要介绍了纳米力学成像的新功能。

该网络研讨会涵盖了涵盖广泛系统的示例，强调了高级AFMS对薄膜研发的影响和多功能性。

关于你的讲师

Lark Scientific LLC顾问Donna Hurley博士

IBM Research-Almaden工作人员Kumar Virwani博士