庇护研究网络研讨会:纳米力学的接触共振工具

描述

关于机械性能的纳米级信息对于许多先进材料和纳米技术应用至关重要。bob综合app官网登录在过去的几十年里，原子力显微镜技术已经出现，用于探测纳米范围内样品的机械性能。与大量用于较软样品的技术相比，很少有技术能够测量1-200 GPa范围内的模量。一种技术，接触共振(CR)，已被证明在这个范围内工作得非常好。CR方法在接近悬臂谐振频率的动态激励的接触模式下工作，能够在广泛的材料范围内进行敏感测量。此外，分析CR的峰值频率和质量因子可以得到准确、定量的弹性模量和粘弹性阻尼数据。

在本次网络研讨会中，我们将解释使用不同CR方法进行测量的基本概念，包括:

• 点光谱
• 定性对比成像
• 定量映射

我们还将讨论对各种样品的接触谐振的实际实现，以及您可能遇到的一些陷阱和伪影。最后，我们将介绍如何使用CR方法来提高对系统的理解，例如:

• 复合材料
• 薄膜
• 生物材料
• 聚合物混合

CR方法的纳米力学表征能力，正如你将了解到的，是当今和未来材料的开发、生产和现场监测的重要工具。

关于你的讲师:

Donna Hurley博士在美国国家标准与技术研究所(NIST)的材料测量实验室领导AFM纳米力学项目。她的项目团队创建并应用AFM测量技术进行材料性能表征。十多年来，她开发了接触共振AFM模式，用于定量纳米机械成像。她是许多技术文章的作者或合著者，包括最近发布的扫描探针声学技术(Springer-Verlag, 2012)和即将出版的工业应用中的SPM:纳米力学表征(John Wiley & Sons, 2013)中的章节。bob综合app官网登录她拥有伊利诺伊大学香槟分校的物理学博士学位。在加入NIST之前，她曾在GE公司研究(斯克内克塔迪，NY)和诺丁汉大学(英国)工作。

Roger Proksch博士是牛津仪器公司Asylum Research的总裁和联合创始人。bob平台下载手机版他有超过20年的AFM经验。他与人合著了多篇论文，是多项AFM专利的共同发明人。他在明尼苏达大学获得博士学位。