用原子力显微镜（AFM）测量薄膜和底物的表面粗糙度

描述

表面粗糙度是对薄膜和底物的重要测量，包括半导体电子，数据存储，光学和其他玻璃组件，以及从纸张到食品包装的薄膜和涂料。bob综合app官网登录表面粗糙度既是监视沉积，蚀刻和抛光步骤的有用指标，又是成品材料中的共同质量控制测量。新材料和过程导致具有超低粗糙度的表面，这些表面很难或不可能用传统的手写笔和光学专长仪来表征。

本网络研讨会将介绍原子力显微镜（AFM）作为一种强大的测量工具，可用于测量从埃矛尺度到数十个或数百纳米的粗糙度。这庇护研究的最新AFM可以使这些测量速度更快，更轻松，并且比仍然常用的上一代AFM更精确。这些功能将通过与行业和学术研究相关的材料进行的案例研究来强调。

加入网络研讨会，了解更多有关：

• AFM与其他粗糙度测量技术的比较
• AFM可以测量的粗糙度参数的类型
• 与AFM进行粗糙度测量的实际考虑
• 使用AFM进行典型的粗糙度测量的步骤
• 最新的庇护AFM如何改善粗糙度表征
• 对几种不同材料的粗糙度测量的案例研究

关于您的演讲者

Jason Li博士
bob综合app官网登录应用程序组经理
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Marta Kocun博士
产品经理
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