什么是sCMOS上的插值瑕疵修正，以及如何打开/关闭

缺陷像素的分类、识别与滤波

安道尔的Neo和Zyla摄像头配备了相当大的FPGA处理能力，用于过滤图像传感器中的小部分瑕疵。该滤波器识别并补偿在FPGA处理步骤中纠正的三种类型的瑕疵：

1. “热像素”——这些像素的暗电流显著高于平均值。要识别，和或拍摄长曝光图像，并在图像上绘制暗电流图。暗电流值高于设定阈值的像素被标记为“热像素”。
2. “噪声像素”-这些像素的读取噪声明显高于平均值。识别和或创建传感器中每个像素的读取噪声图。读取噪声值高于设定阈值的像素被标记为“噪声像素”。
3. “可变响应像素”- Andor在半井深处拍摄一个均匀照明的图像。这个图像是平场的，以纠正任何照明不均匀性。响应度小于75%或大于全球平均水平的125%的像素被标记为“可变响应度像素”。

上述缺陷类型在摄像头的FPGA中使用插值滤波器实时处理。该过滤器的工作原理是计算周围8个像素值的平均值，并用该平均值替换该中心瑕疵像素。

然而，在某些特定应用中，这种像素瑕疵上的插值可能被认为是有害的，这些应用依赖于有限像素集上的总定量完整性，例如在基于定位的超分辨率显微镜（如手掌和风暴技术）和天文学中。在这些应用中，用户能够关bob综合app官网登录闭插值校正是有益的，这和或已经成为可能。在本技术说明中，介绍了与或Solis采集软件与与与或SDK3接通/断开此校正开关得说明。

打开/关闭瑕疵修正功能

从最新发布的Andor SDK3（最低版本3.7.30004）和Solis（最低版本4.24.30004）开始，用户可以打开和关闭此瑕疵矫正功能。

SDK3

在SDK3中，布尔特征被命名为StaticBlemishCorrection。有关SDK3功能控制的详细信息，请参见和或SDK3手册。

索利斯

在Solis中，用户可以使用Andor basic中的以下命令打开和关闭该功能:

booleanfeatureenable（“StaticBlemishCorrection”，0）这将关闭静态污点校正
booleanfeatureenable（“StaticBlemishCorrection”，1）这将启用静态污点校正

访问热门像素地图

某些应用程bob综合app官网登录序可能特别容易受到热像素瑕疵的影响。传感器的热电冷却（例如，在近地天体中冷却至-30℃）有助于极大地减少传感器内此类热像素的出现，这意味着这些像素仍可用于有用的定量成像。然而，关于剩余热像素总体的位置的知识对一些用户仍然有用，因此他们可以在其处理阶段解释它们。

和或可与最终用户合作，为其sCMOS传感器生成定制的“热像素图”。该图将根据最终用户概述的实验条件生成，如曝光条件和强度阈值。