iKon-M SY

安铎的独立USB 2.0 iKon-M SY 934系列具有高量化，背光传感器直接x射线检测。方便的铍箔窗口以最小的x射线能量的“束硬化”阻挡可见波长，直接探测能量范围从< 2.5 keV到> 20keV。

5年真空保修期
“独立”是窗口
Multi-Megahertz读出
裁剪模式操作
USB 2.0连接

安铎的独立USB 2.0 iKon-M SY 934系列具有高量化，背光传感器直接x射线检测。方便的铍箔窗口以最小的x射线能量的“束硬化”阻挡可见波长，直接探测能量范围从< 2.5 keV到> 20keV。

该传感器阵列为1024 × 1024，像素为13 × 13 μm，具有高动态范围和高空间分辨率。无缝软件选择范围的kHz和Multi-MHz读出速度提供了极低的读出噪声和更快的帧率分别。

UltraVac™- 5年保修。专有和经过验证的真空工艺，对于持续的真空完整性，传感器保护和无与伦比的冷却至关重要，年复一年。

“独立”是窗口- 200 μ m铍窗口为标准

13 × 13 μ m像素大小-动态范围和分辨率的最佳平衡

超低噪声读数-智能低噪音电子产品提供最“安静”的系统噪音可用

多兆赫像素读出-可实现高帧率(在可视化模式下为5mhz，最高灵敏度和信噪比为50khz)

USB 2.0连接- USB即插即用-无控制器盒

增强型基线钳-动态测量的定量精度。

裁剪传感器模式-具有快速时间分辨率的连续成像专用采集模式

集成到EPICS中-平台完全集成到EPICS控制软件中

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