PV检查员

Andor的PV Inspector近红外相机旨在为在线电致发光和光致发光检测提供最终的速度和灵敏度性能，提供超过800 nm的> 90% QE，并结合条纹抑制技术™，以最大限度地减少近红外中的条纹效应。1024x1024阵列具有13 μm像素的高分辨率，具有可忽略的暗电流，热电冷却至-70°C。PV Inspector通过高达5 MHz的快速读出速度提供行业最高吞吐量，并结合独特的“双曝光环模式”，允许快速曝光切换。一个可锁定的USB 2.0端口，确保安全的抗振动连接。

增强的近红外灵敏度和独特的高速模式的PV检查员，使双曝光EL检查速度超过1个单元每秒，非常适合于非常高通量的PV检查系统发现在弦和单元分选。快速，双重曝光成像，允许在不同的偏差水平下定量测量细胞。