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利用扫描电子显微镜中的能谱分析技术对高分子材料上的多层聚合物和涂层进行了研究,分析了涂层失效的情况。在该实例中,使用EDS映射对涂层进行成像,并显示“指纹”光谱来显示不同层之间的化学差异。当对照和缺陷膜的结果比较时,SE图像显示缺陷膜的顶部(明亮)层大大减少。EDS揭示了所发生的事情的细节。PET层由氧的较薄区域所示减少。通过比较Si和Cl的控制中可见的层以及缺陷膜中缺失的层,可以看出保护清漆层缺失。
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