第48届国际测试与故障分析研讨会是微电子故障分析社区的主要活动，在这里分享您追逐越来越小、越来越难以捉摸的缺陷的经验和故事。我们邀请您提交您的作品以供出版，并在ISTFA第48年在加利福尼亚州帕萨迪纳市向行业展示。
我们期待在活动中与您见面，并与您讨论您目前的工作和工作流程。如果您想在展会上与我们预约会面，请填写下面的表格。
如需进一步资料:ISTFA 20122。
位置
帕萨迪纳，加利福尼亚州，美国
展位号:317
日期
2022年10月30日- 11月3日
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