C+系列EBSD探测器
C+系列EBSD探测器,C- nano +和C- Swift+,是第二代入门级探测器,设计用于各种类型的EBSD应用。
C-Swift+是一款一流的高通量EBSD检测器。与对称S3探测器C-Swift+采用定制的CMOS传感器与光纤相结合,以提供速度和灵敏度,确保即使在最具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。
C-Swift+的最大速度为2000包/秒,具有良好的模式分辨率(156 x 128像素),比运行速度较低的同类基于ccd的检测器所使用的像素数高出4倍,确保了可靠的索引,高命中率和对所有类型的样本的令人印象深刻的吞吐量。无畸变光学,与AZtec软件中强大的索引算法合作,使C-Swift+提供卓越的角度精度低于0.05°。对于要求bob综合app官网登录更高质量图案的应用,C-Swift+可以以高达250 pps的速度收集622 x 512像素图案,使其成为复杂的多相样品和详细的相分析的理想选择。
这是一种为快速、有效的样品表征而设计的检测器。该系统的每一个组件,从独特的接近传感器到可选的综合探测探测器,都设计成最大限度地提高性能和易用性,并使EBSD成为每个实验室的标准工具。
当速度是关键时,C-Swift+探测器设置了一个新标准:
了解牛津仪器CMOS EBSD探测器范围的一种新的荧光屏,使用光学干涉滤波器在高温Ebob平台下载手机版BSD实验中屏蔽红外信号。这项新技术能够更快、更灵敏地分析在高温下原位测量的微观结构变化。