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扩张

Aztecwave

Aztecwave将WD的独特力量结合在一起解析X射线峰量化小元素和微量元素EDS的速度和灵活性。eds和WDS波光谱仪操作已完全集成到AZTEC软件中,确保了具有各个级别专业知识和TRU-Q的用户的最大可访问性®处理技术最准确的结果。当微分析最具挑战性时,Aztecwave可以快速提供准确的答案。

  • 元素识别和组成的清晰度增强

  • 痕量元素的检测和测量水平降低到数十ppm

  • 在所有浓度水平上的所有元素的准确组成确定

  • 完全集成的工作流程旨在优化阿兹台克人平台中的合并EDS和WD

  • EDS和SEM的实时输入以优化WDS设置,以确保出色的结果


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Aztecwave

新的准确性和灵敏度

  • 提高元素识别和组成的清晰度,其中元素峰在EDS频谱中未清楚地解析
  • 检测和测量痕量元素的水平,向下降至数十ppm
  • 确定所有浓度水平上所有元素的准确组成
  • 使用EDS测量主要元素,并通过WDS重叠或跟踪元素
  • 解决冶金,电子,矿物学/地质,陶瓷,取证和核电产生的挑战

所有用户都可以访问

  • 完全集成的工作流程旨在优化阿兹台克人平台中的合并EDS和WD
  • 新技术使用EDS和SEM的实时输入来优化WDS设置,并在开始收购之前向用户提供反馈 - 保证在最短的收集时间和所有级别的用户专业知识中获得出色的结果
  • 唯一优化光束电流,计算时间和精度之前的唯一三向控制
  • 在开始获取之前,请通过选定的设置审查并评估潜在的WDS扫描质量
  • 有经验用户的灵活,手动控制
  • 内置技术使用EDS和SEM系统信息来为自动选择提供信息:

用于定量的联合EDS-WDS分析:

  • 计算时间
  • 线系列和X射线线
  • 衍射晶体
  • 背景位置
  • EDS采集参数
  • EDS检测器位置
Optimise_wds_collection_settings

对于定性WDS频谱扫描:

  • 晶体
  • 缝尺寸(S)
  • 缝位置
  • 停留时间
scan_setup

所有元素准确

TIV扫描1000居住0.2缝隙尺寸

WAVE WDS光谱仪允许Aztecwave在SEM上提供真正的电子微探针性能

  • 针对所有能量进行了优化,这意味着最佳X射线线始终可用于分析
  • 所有共同的重叠元件线分开,包括过渡金属K线
  • 最低的检测极限,在较短的收集时间中,较低的梁电流

与Azteclive EDS软件和技术无缝集成

  • TRU-Q技术在EDS计数率高达400,000cps时提供电子微探针级定量准确性
定量结果
由Aztecwave中EDS和WDS组合确定的不锈钢组成。
Co Fe重叠4000停留2个bin比较
具有0.1 wt%Co.的超合金中存在的COKα峰的WDS扫描。

设置光谱仪

逐步的工作流程以指导您完成波光谱仪的设置和性能检查

  • 专为没有经验的用户而设计
  • 确保安全操作
  • 提供快速系统设置
  • 保证最佳性能

在需要的地方生成绩效测试报告(例如,获得认可的设施)


PBS_SCAN

定性频谱扫描

一系列步骤,用于直接设置和使用波光谱仪的WDS频谱扫描的采集

  • 只需使用滑动工具即可输入扫描范围,或选择候选元件行
  • 根据选定的能量范围以及使用内置技术,晶体,缝隙尺寸和缝隙位置自动优化
  • 在获取前显示了理论扫描
  • 可以将停留时间设置在0.005到50 s之间,使大关贯穿扫描中的跟踪元素
  • WDS扫描和EDS光谱都可以进行审查和比较

定量分析

专门的工作流程,用于联合EDS和WD的收购和定量分析

  • 使用EDS进行样本分析位置,并自动优化所有ED和WDS收集参数
  • “获取时间表”估计在获取设置期间的WDS获取时间,并在获取过程中显示波光谱仪的状态
  • 高级选项包括在分析中添加其他WDS收购或现有的EDS频谱
  • 专用的“计算组成”步骤,用于查看和检查单一或多个采集的定量结果
  • 合成的WDS光谱将EDS光谱数据转换为高分辨率,高峰到背景空间以检查重叠,并获得X射线线和背景的获取能量
采集时间表

标准化

指导工作流程以确保使用标准材料对系统进行最佳校准,以确定精确的组成确定

  • 自动计算的优化采集条件
  • bob平台下载手机版牛津仪器42和56元素标准块组成和地图已预加载,以方便导航和快速设置
  • 梁电流测量与EDS计数速率的关联,以计算未归一化的组合EDS-WDS结果
Aztecwave
设置光谱仪
定性频谱扫描
定量分析
图像注册和导航
标准化
比较WDS扫描和EDS光谱
引导样品交换和光谱仪关闭
WDS频谱模拟
WDS收购时间表
EDS告知自动采购设置
光束电流/采集时间/精度的3方式控制
WDS X射线映射 印加能+(可选)

WDS的详细申请bob综合app官网登录

波长色散光谱(WDS)将自己适用于需要固体样品定量组成结果的应用,尤其是在需要准确确定次要元素和微量元素浓度的情况bob综合app官网登录下。申请示例存在于广泛的领域,包括冶金,地质,电子,半导体,取证以及能量产生和存储。通过Aztecwave结合WDS与EDS分析相结合,为SEM中的非破坏性,组成分析提供了一种多功能系统。

发现详细的应用程序示例bob综合app官网登录

视频

解决重叠并使用aztecwave中的WDS扫描识别跟踪元素

WDS扫描是AZTECWAVE中的一种新工作流,可实现EDS频谱中受峰重叠影响的元素的积极识别,在痕量浓度(小于0.1 wt%)中存在。

将以几种不同的样本类型作为示例,包括电子产品中使用的矿物质,金属和焊料。此外,该教程将包括有关如何的演示;(1)使用可用的不同设置工具获取WDS扫描,(2)确定存在的元素线,(3)比较多个WDS扫描和EDS光谱。


aztecwave-扩展您的SEM的功能

发现Aztecwave是如何准确,快速检测到SEM中具有挑战性问题的所有元素的理想解决方案。发现Aztecwave如何帮助您获得高质量的结果。


Aztecwave -WDS扫描

发现AZTECWAVE WDS扫描的最新功能,该功能为SEM上唯一具有真实电子微探针和性能的WDS光谱仪为供电。查看如何将数据从SEM -EDS获取到新的确定性水平 - 通过显示所有峰重叠完全分析并准确测量所有元素,包括在次要或痕量水平上的所有元素。


使用WDS和Aztecwave解决X射线线重叠

ED和WD都是使用X射线的技术,当电子束与材料相互作用时生成的X射线以确定元素组成。由于ED可以同时收集所有X射线能量,与一次收集一个X射线能(即元素线)的WD相比,EDS更快,因此更常用于基于SEM的组成分析。但是,WD确实比ED带来了一些显着的优势。


波长色散光谱法(WDS)和Aztecwave的实用介绍

本教程将对WDS和AZTECWAVE进行实用介绍 - 我们用于组合SEM基于SEM的EDS-WDS分析的新软件。


AZTECWAVE:WDS检测和EDS速度,具有AZTEC的准确性和可访问性

Aztecwave可以加速您的时间成果,以无与伦比的准确性和确定性帮助您在更少的时间内实现更多的时间。在本教程中,发现Aztecwave如何以准确性和可访问性提供WDS检测和EDS速度。

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