斯威夫特

C-Swift是我们CMOS探测器家族的最新成员，用于常规材料分析和高通量样品表征。
C-Swift得益于许多已实现的功能对称性S2这样一个开创性的EBSD探测器，当然包括为EBSD设计的定制CMOS传感器。

保证索引速度1000pps
622 x 512像素EBSPs, 250 pps
光纤为低能量和低电流分析提供极高的灵敏度
无失真图像

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C-Swift是同类领先的高通量EBSD检测器。与对称S2探测器，C-Swift使用定制的CMOS传感器与光纤相结合，以提供速度和灵敏度，确保即使在最具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift的最大速度为1000pps，具有良好的模式分辨率(156 x 128像素)，这是在类似速度下运行的可比的基于ccd的检测器所使用的像素数的4倍，确保了可靠的索引和所有类型的样品的高命中率。无畸变光学与AZtec软件中强大的分度算法合作，使C-Swift能够提供0.05°以下的卓越角度精度。对于需要bob综合app官网登录更高质量的图形的应用，C-Swift可以以高达250 pps的速度收集622 x 512像素的图形，使其成为复杂多相样品和详细相分析的理想工具。

这是一个检测器，已被设计为快速，有效的样品特征。该系统的每个组件，从独特的接近传感器到可选的集成林业探测器，都被设计为性能最大化和易用性，并使EBSD成为每个实验室的标准工具。

当速度是关键时，C-Swift探测器设定了一个新标准：

保证分度速度1000 pps只使用12 nA束电流
光纤和优化的荧光屏提供了卓越的灵敏度，确保在低剂量和低光束能量下获得高质量的图案，从而获得最大的空间分辨率
156 x 128像素模式分辨率在最高速度- 4倍于快速CCD探测器在可比速度
全分辨率（622 x 512）图案–非常适合进行详细的相位和变形分析
低失真光学元件，确保角度精度优于0.05°。
高灵敏度和优化的荧光屏，确保在低剂量和低光束能量下的高质量图案，从而获得最大的空间分辨率
无缝EDS集成，即使在最高的速度
波纹管式SEM界面，保持显微镜的真空完整性
独特的接近传感器–在潜在碰撞发生之前检测碰撞，并自动将探测器移动到安全位置
简单直观的探测器设置，确保每次都达到最佳效果
五个集成前向散射探测器，提供全色互补通道对比度和原子序数对比度图像。

下载中心

CMOS-EBSD探测器量程

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对称性S2

Symmetry是世界上第一款基于CMOS传感器技术的EBSD探测器，它将彻底改变EBSD分析。

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AZtecHKL

这本16页的小册子说明了为什么AZtec是市场上领先的EBSD分析平台。涵盖硬件和软件。

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EBSD解释

EBSD解释为一个24页的教程，不仅给新来者提供了坚实的基础，在强调学科的科学，而且还展示了如何应用该理论在实践中获得可靠和准确的EBSD结果。

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