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探针
纳米操作

用于FIB和SEM的OmniProbe纳米操纵器自1995年以来一直处于行业领先地位。多种型号可用于各种预算和应用。bob综合app官网登录

从开环到闭环反馈,从伺服电机到压电技术,价格合理的选择使每个实验室都有可能实现原位纳米操纵的好处。所有产品均由Omniprobe在TEM薄片制备解决方案和其他操作任务方面的专家应用知识支持。bob综合app官网登录

OmniProbe纳米操纵器以其高效性、易于实施和使用而闻名,通过它,您可以:

  • 中和未涂覆绝缘试样的高电荷区
  • 测量纳米结构的电参数(EBIC, EBAC,电探测)
  • 执行平面视图和背面铣削的FIB提出方案
  • 在SEM中制作相关的TEM和原子探针纳米线样品
  • 创建用于改进TEM、EDS和其他类型分析的高质量样品
  • 对冷冻样品进行提离

OmniProbe是一个通过PC接口驱动的端口安装解决方案。它总是在你需要的时候出现,在你不需要的时候消失。它充分利用了显微镜的功能,包括全舞台倾斜和使用其他安装附件。Omniprobe纳米操作机使用一种独特的方法来辅助物体的3D操作,从而更容易操作和更高的成功率。

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OmniProbe 400

这本小册子介绍了我们的旗舰纳米机械手OmniProbe 400的特性和优点

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EBIC和EBAC分析

E3定量纳米探针显微分析系统能够在SEM和FIB中对器件和材料进行电特性描述(EBIC、EBAC和电探针)。这本8页的小册子概述了E3产品。

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高质量TEM薄片制备及尖端分析

本文介绍了一种能够测量TEM片层局部厚度和成分的新技术,并讨论了其在半导体器件失效分析中的应用。

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Nanomanipulators

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