12月5日

Aztectem:TEM的下一代EDS

表面表明样品厚度

bob平台下载手机版纳米分析系统的全球领导者牛津仪器(Oxford Instruments)很荣幸能与Ultim一起引入Aztectem®最大对于TEM,再次转换ED在透射电子显微镜上的能力和使用。

由Ultim Max提供动力的Aztectem在透射电子显微镜(TEM)上提供无与伦比的EDS性能。与上一代SDD探测器相比,Ultim Max的灵敏度最高可提高3倍。这与检测器速度增加4倍,为TEM中的ED提供了新的应用程序,包括生物学和bob综合app官网登录原位实时化学分析。

高灵敏度和高速最大最大检测器允许首次在TEM中使用AzteClive。AzteClive结合了实时X射线图,电子图像和X射线光谱,可以在样品暴露于热,液体,气体或电场时实时反馈。这种增强功能将改变方式原位进行TEM中的实验。这将使用户可以重新评估他们设计高级材料的方式,并了解支撑清洁能源的反应。

Aztectem独特地通过质量厚度量化元素组成。这可以在TEM中分析的整个标本范围内提供更准确的量化,并批判性地使用户可以单独使用EDS测量其样品的厚度,从而打开了整个新的测量尺寸。

TEM产品经理塞缪尔·马克斯(Samuel Marks)博士表示,新的探测器系列将为当前具有挑战性的分析领域提供新的能力和生产力。“ Ultim Max检测器对TEM的敏感性与新的Azteclive技术相结合,将改变客户在TEM中发生的化学反应的方式。这将为元素分析开放新的应用程序。”bob综合app官网登录

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