3月24日

来自Asylum Research的新白皮书:“用Jupiter XR大样本原子力显微镜测量表面粗糙度”

新的基材制备、薄膜沉积技术和涂层工艺正在产生超低粗糙度的表面，低于传统光学和触头轮廓测量工具的测量分辨率。原子力显微镜(AFM)长期以来被认为是表征纳米甚至亚纳米尺度粗糙度的有用方法。下一代afm，比如庇护研究木星XR大样本AFM现在使这些测量更简单，更快，更可重复。

图片说明:在Asylum Research Jupiter XR大样本AFM上拍摄的超低粗糙度外延硅片。该1 μ m扫描区域的粗糙度(Sa)仅为0.902 Å。

新白皮书出炉了庇护的研究将Jupiter XR AFM与其他表面粗糙度测量工具进行了比较，并强调了其优点。从半导体、数据存储、玻璃和造纸行业中抽取的一系列示例演示了Jupiter XR的速度、精度和可重复性。读者将了解到AFM是这些测量的首选工具，以及为什么升级他们当前的AFM功能可以帮助推动流程改进和生产力。

Jupiter XR AFM具有完全可寻址的200毫米样品卡盘，简单直观的系统设置软件控制，包括激光和探测器对齐，自动优化成像参数，自动多点成像和分析，以及Asylum Research独特的blueDrive攻头模式，以提高尖端寿命和测量重复性。它也是世界上最通用的大样本AFM，结合了Asylum Research的非凡功能和配件，以及支持未来扩展的模块化设计。Jupiter XR是研究环境、高通量工业应用和故障分析实验室的理想研究平台。bob综合app官网登录无论应用如何，没有其他大型AFM可以与Jupiter的易用性、速度、性能和灵活性相匹配。

有关更多信息，请参阅https://afm.oxinst.com/roughness