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扩张

氧化硅

二氧化硅(SIO.2)是半导体、MEMs和光电子器件的基本材料。石英用于增强现实(AR)光栅;掺杂氧化物用于波导和硅氧化物2可用于设备钝化。SiO2可以使用以下几种技术进行沉积和蚀刻:

二氧化硅

PlasmApro 100 Polaris.结合独特的静电钳(ESC)技术以及我们建立良好的Cobra300 ICP源。这提供了优良的重复性,同时保持高蚀刻速率和剖面质量。

优化的过程优化,以优化的蚀刻速率优异地控制轮廓。

在ICP 请求更多信息

高纵横比优质纳米尺度SIO2腐蚀

各向异性和各向同性剖面可在竞争性刻蚀速率与优化均匀性。

更多关于RIE 请求更多信息

在优化特征倾斜方面具有专业知识的良好控制。

更多关于IBE 请求更多信息

优异的材料质量和低损伤,即使在低沉积温度。

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二氧化硅保形性

非常高的符合性与短周期时间(90 ms prec。4.5 s等离子体)。礼貌你/ e

厚度和折射率的优异均匀性,以及高沉积速率可用应力控制。可以使用不同的化学试剂:纯硅烷和稀释硅烷。

  • 硅氮4/ N2O
  • 硅氮4/ O2
  • Teos / O.2
  • 高质量的电影,低BOE
  • 折射率控制
  • 低温沉积至20°C
  • 沉积速率为5-100nm/min
  • 使用geh可能掺杂4,博士3.B2H6,TMB,TMP。
  • 单一晶片尺寸:200毫米
  • 批量大小:5 x2”
  • 单一晶片尺寸:300毫米
  • 批量大小:可达22x2", 9x3"5x100mm, 3x120mm
更多关于ICPCVD. 请求更多信息
正硅酸乙酯沉积SiO2

SiO2使用TEOS和O沉积2通过ICP CVD在〜50μm深沟槽4:1纵横比中

厚度和折射率均匀性好。在高沉积速率下可以进行应力控制。可以使用不同的化学试剂:纯硅烷和稀释硅烷。

  • 硅氮4/ N2O
  • Teos / O.2
  • 高质量的电影,低BOE
  • 折射率控制
  • 沉积速率从5->1000nm/min
  • 使用geh可能掺杂4,博士3.B2H6,TMB,TMP。
  • 单一晶片尺寸:200毫米
  • 批量大小:高达9x2“,4x3”

  • 单一晶片尺寸:300毫米
  • 批量大小:可达43x2", 19x3", 10x100mm, 7x120mm, 4x150mm, 2x200mm

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具有竞争性沉积速率的优异化学计量。

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