涂料和薄膜

涂层和薄膜的设计和开发旨在建立或改变各种表面特征，在许多情况下，对于优化材料设计的结构，形态和材料特性之间的关系是必不可少的。WITEC成像系统特别非常适合通过可视化单个化学成分的分布以及不同材料成分的物理性能来为多组分涂料系统和薄膜分析做出贡献。

对于研究涂料和薄膜，成像系统的深度分辨率对于区分Z方向上的薄层至关重要。由于深度分辨率高度依赖显微镜的共同点，因此WITEC成像系统的设计专门用于在深度扫描中提供出色的共聚焦成像性能。

WITEC的高度用途仪器可以结合各种成像技术，以显着增加测量结果提供的见解。可以包含在单个显微镜设置中的可能组合包括共聚焦拉曼成像，原子力显微镜（AFM），近场微观显微镜（SNOM）和扫描电子显微镜（SEM）。共聚焦拉曼成像提供化学信息，AFM检测样品表面的刚度，粘附等的地形，结构和物理特性，而SNOM高分辨率测量可以在光学上超出衍射极限。所有WITEC仪器配置都可以在任何时候升级，以使系统适应新的或扩展要求。