半导体和光伏

结构化底物广泛用于半导体和光伏研究与开发中。对设备质量和可靠性的高需求使得对此类设备结构的固有应变和结晶特性有详细的了解越来越重要。WITEC成像技术提供了机会，可以全面分析样品有关其化学和物理特性的机会。

WITEC成像系统提供了广泛的成像技术，可以在一个显微镜中灵活组合，以显着增加测量结果提供的见解。共聚焦拉曼成像提供化学信息，AFM检测样品表面的刚度，粘附等的地形，结构和物理特性，而SNOM高分辨率测量可以在光学上超出衍射极限。所有WITEC仪器配置都可以在任何时候升级，以使系统适应新的或扩展要求。