时间相关单光子计数

使用时间分辨发光显微镜(TLM)，可以研究发光器件(如led)的发光特性，并揭示空间差异。发光由电脉冲发生器刺激，其强度以时间分辨的方式记录。因此，可以为每个图像像素计算松弛时间或响应时间并进行可视化。例如，TLM可用于led的质量控制。

蓝色发光二极管(LED)上的时间分辨发光显微镜(TLM)。
左:局部松弛时间图;比例尺7微米。
右:发光发射时间起点等高线图;比例尺10µm。

荧光寿命成像显微镜(FLIM)从脉冲激光激发后的时间分辨荧光衰变确定每个图像像素的平均荧光寿命。结果的FLIM图像根据生命周期进行颜色编码，显示其在样本中的空间分布。结合其他成像技术，如拉曼成像或AFM, FLIM扩展了从一个样品中获得的信息量。

N,N′‐双(1‐乙基丙基)‐3,4,9,10‐苝(二羧基亚胺)(EPPTC)晶体针的荧光寿命成像(FLIM)。左:总荧光强度;比例尺5微米。右:这部电影;比例尺5微米。
图片由北京工业大学信息光子技术研究所和应用科学学院张新平提供。