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WITec技术

WITec显微镜系统具有非破坏性,纳米分析技术,如拉曼成像,原子力显微镜和扫描近场光学显微镜。我们运用我们在这些方法方面的长期经验来开发创新的成像系统,以确保最佳的性能和可靠性。

无论您是对标准还是相关方法感兴趣,WITec都是高分辨率成像的最佳来源。

我们的主要技术是:

共聚焦拉曼成像:化学鉴定样品成分的光谱方法。

原子力显微镜(AFM):高分辨率成像方法,可视化样品的地形和表面特征。

扫描近场光学显微镜(SNOM):分辨率超过衍射极限(60 - 100 nm横向分辨率)的光学成像。

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