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原子力显微镜

WITec AFM原理

原子力显微镜(AFM)通过记录表面和安装在悬臂上的尖尖之间的相互作用力,以极高的原子分辨率跟踪样品的地形。AFM提供了平行和垂直于表面的空间信息。除了地形高分辨率信息,还可以通过分析尖端-样品相互作用力来研究材料的局部特性,如粘附性和刚度。


WITec的原子力显微镜

WITec原子力显微镜集成到研究级光学显微镜提供优越的光学通道,精确的悬臂对齐和高分辨率的样品调查。使用压电驱动扫描台扫描尖端下的样品,结果(如地形等)显示为图像。

光学模式与先进的视频摄像系统相结合,允许高分辨率的样本调查和快速选择感兴趣的区域。通过同步采样和afm -悬臂视图,可以方便地识别和调整测量位置。使用额外的照明和检测技术(如亮场、暗场、偏振、荧光等),用户可以进一步确定AFM测量的兴趣点。通过简单地旋转显微镜转塔,用户可以在光学和AFM模式之间快速和准确地切换,保持光学显微镜在AFM模式下的外观和感觉。

WITec AFM光束路径
光路
WITec AFM样品悬臂视图
同时悬臂和样品视图,便于识别和调整测量位置。

数字脉冲力模式

数字脉冲力模式(DPFM)是一种非谐振、间歇接触模式。它避免了在软样品上以接触方式操作所造成的表面损伤,并提供了额外的样品信息。

当添加到AFM系统时,DPFM扩展了显微镜的能力,不仅仅是测量地形,如局部刚度,附着力,粘度,能量耗散,接触时间,长程力等。这可以在正常的扫描速率下完成,因为系统的工作速率高达每秒几千像素。

DPFM的电子学包括一个高速数据采集系统,一个可自由编程调制发生器和一个实时数据评估模块。随着完整测量的存储,广泛的后处理数据评估被执行。

WITec AFM dppm
DPFM电子学向AFM的z-压电引入正弦调制,幅值为10-500 nm,频率为用户可选的100 Hz至2 kHz,远低于悬臂的谐振频率。一个完整的力-距离循环以这个重复速率进行,产生所示的力信号。
WITec DPFM曲线

AFM与其他显微技术相结合

WITec系统的模块化设计允许结合各种成像技术,如拉曼成像、荧光、发光、原子力显微镜(AFM)和近场显微镜(SNOM或NSOM),并在一个单一的仪器中进行更全面、相关的样品分析。在不同模式之间的切换只需通过旋转显微镜转塔来完成。

拉曼和AFM

通过将共聚焦拉曼成像与AFM相结合,可以很容易地将样品的化学性质与其表面结构相关联。这两种互补的技术可以在我们的组合拉曼- afm显微镜alpha300 RA中进行灵活和全面的样品表征。

尖端增强拉曼光谱是相关拉曼- afm显微镜的典型应用。

WITec Raman AFM聚合物共混物
聚合物共混物的拉曼成像(左)和AFM成像(右)在同一样品区域,使用合用WITec拉曼-AFM显微镜。

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