ATEC-CONTAu

ID 804. ns.atec-contau

导电硅探头与可见尖端接触模式电测量。

每个包包含10个探针。这款产品没有现货，但你可以订购，大约需要两周时间才能送到。

〇夏季储蓄购买任何2 AFM探针，节省10%

细节

890.00美元

现在预订

描述细节

描述

f = 15 kHz | k = 0.2 N/m |尖端涂层:Au

悬臂接触模式末端的高级尖端，镀金

NANOSENSORS™AdvancedTEC™ContAu AFM探针专为接触模式成像而设计。

它们的特点是从悬臂的最末端突出的四面体尖端。这一特性使它们成为尖端必须精确放置在兴趣点和/或必须可见的所有应用程序的最佳选择(例如纳米操作)。bob综合app官网登录由于其非常小的半锥角，AdvancedTEC™系列的尖端在具有小图案尺寸和陡峭样品特征的样品上表现出出色的性能。

细节

ATEC-CONTAu规范
频率(赫兹):

15.00
最大频率(kHz):

25.00
最小频率(kHz):

7.00
弹簧常数(N/m):

0.20
最大弹簧常数(N/m):

０．７５
最小弹簧常数(N/m):

0.02
尖端半径(nm):

63.00
尖高度(um):

17.50
最大尖高度(um):

20.00
最小尖高度(um):

15.00
长度、宽度、厚度(µm):

450 x 50 x 2
提示:

3站
尖端材料:

硅
提示涂层:

Cr /非盟
反光涂层:

Cr /非盟
制造商:

纳米传感器

您的浏览器似乎禁用了cookie。

ATEC-CONTAu

描述

f = 15 kHz | k = 0.2 N/m |尖端涂层:Au

悬臂接触模式末端的高级尖端，镀金

细节

最近查看的

选择您的地区

我的账户