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了解调查
AFM探针是一种尖端放置在悬臂梁的自由端与探针持有人。典型的尺寸在微米尺度上的齿顶圆角半径几纳米到几十纳米。

上的悬臂连着一个矩形芯片毫米尺度,让用户获取探针的探针,并将其持有人,因此它可以用于原子力显微镜。AFM的技巧是使用过程由半导体行业首创。今天被称为MEMS技术,大多数探测器是由硅和氮化硅。

尖上的悬臂可以不同长度,尖锐或钝,涂上不同的材料,使不同的扫描特性包括再穿,材料焊接和磁学。

除了不同的涂料,悬臂设计不同规格,以便更好的交流与样品他们扫描和AFM模式使用。例如,不同的频率使快或慢扫描和弹簧常数可以启用软或困难与样品表面的交互。探头磨损随着时间被认为是消耗品。
如何选择一个调查:

与所有可用的探测,如何选择正确的吗?

没有一个放之四海而皆准的解决方案,选择合适的AFM探针。如何确定哪一个是适合你的实验吗?即使对于一个熟练的用户,选择合适的探头可以令人生畏。从小时的非生产性工作,样品污染或损坏,使用不恰当的调查可能是灾难性的。

我们的团队的应用科学家扫bob综合app官网登录描了许多类型的材料和生物样品使用不同模式,条件和探测。这个研讨会的目的是让你选择正确的一个专家调查以匹配您的AFM实验中,无论你的技术水平。

学习模式
联系方式可用于图像样本地形通过保持尖端接触样本恒力。悬臂是上调或下调的扫描过程中根据需要保持悬臂偏转常数。
看到探针
最受欢迎的AFM成像模式,开发模式可以用来测量地形的各种样品。悬臂式驱动达到或接近共振及其振幅的扫描过程中保持不变。
看到开发模式探讨
Video-rate afm像数码VRS1250使用开发模式成像与较小,更快的悬臂梁达到45帧每秒的速度,使他们能够捕获纳米级动态事件的细节。
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在双峰双AC,悬臂在两个独立的驱动simulatanously共振模式。这种技术通常提供了增强的,甚至独特的对比与材料特性有关。
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接触共振提供了定量成像elasticand损耗模量。悬臂扫描同时tip-sample兴奋的接触中共振。这个谐振跟踪各种技术(例如飞镖或乐队激发)。
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开尔文探针显微镜(KPFM)是一个导电双行程成像模式,提示图像表面在开发模式下通过,然后电梯在水面上的一个常数高度量化。
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静电力显微镜(EFM)是一个双行程成像模式样本的远程静电力定性成像在次要的一个初始表面后传球。困电荷的变化、potentiol或样品的电导率或介电常数可以成像。
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力映射模式措施force-distance曲线在高速度快(2500赫兹),捕获图像中的每一个曲线。实时和离线分析模型可以应用于计算模数,附着力和其他属性的获取力曲线。
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力曲线测量期间,悬臂是增加对然后离开样品表面时的部队经历记录。现象,比如蛋白质展开、附着力和样本可以研究粘弹性。
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调幅-调频成像模式用于粘弹性映射。悬臂同时驱动两个单独的共振模式。高次模,变化频率相关样本硬度和弹性,而振幅的变化相关样本损耗和损失。
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扫描电容显微术(SCM)是一种nanoelectrical成像技术,它使用一个微波射频(RF)信号映射电荷载体位置、掺杂剂浓度和掺杂剂类型(p型和n型)在半导体和其他样品。
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横向力显微镜(lem)可用于研究nanotribology和操作联系方式提示扫描正交的长轴悬臂。扭弯的悬臂将导致侧信号的变化。
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磁力miscrosopy (MFM)是一个双行程表面成像模式,一个磁化提示图片在第一,然后电梯上方的siurface常数高度图像远程磁力在第二次通过。
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导电AFM(兽人)在接触模式下扫描测量任何电流通过导电样品伊诺小费。此外,该模式允许局部电流-电压测量,可以在特定的用户定义的点。
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扫描隧道显微镜(STM)是一种基于AFM成像模式量子隧穿的概念。当小费了不久的表面检查,两者之间的偏置电压允许电子隧道通过真空分离他们。由此产生的隧穿电流尖位置的函数,应用电压,和当地的态密度(ldo)的示例。信息是通过监测当前提示扫描整个表面,和通常显示在图像形式。
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纳米尺度与时间有关的介质击穿点measuremnet模式是用于研究纳米电介质击穿。高偏压坡道发送给小费,直到故障事件发生在示例。
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纳米是一个能力的技巧是用来抓或写在样品表面。几何形状、徒手绘图和导入的图像可以用来定义光刻。
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力地图就是一个数组的力曲线。数量和样本高度、样品模量和tip-sample粘附力可以从这个数组提取曲线,除了许多其他预设,甚至自定义计算量。
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扫描热显微镜(SThM)是一种用来测量样品的温度模式。等温样品,或者可以使用SThM地图样本的热导率的变化。
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电化学应变显微镜(ESM)是用来研究固体电化学过程和离子运输。悬臂式驱动的接触共振通过应用交流的偏见,诱导离子传输进而导致适当的样品表面变形,从而驱动悬臂。
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快当前映射是一个模式,收集当前不断在数组的力曲线在高速度。当前地图的好处可以生成的示例最小tip-wear因为小费不是扫描表面。
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就像传统的开发模式,这种模式可以用来测量地形的各种样品。相反的基本频率,悬臂梁共振频率的驱动2日,3日,4日,有时甚至更高的固有模式(不与更高的谐波混淆)。每个高等固有模式越来越高敏感性和越来越高的刚度,使成像效果sub-nm振幅,可以简化分子和原子尺度成像对某些样品。
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烤瓷用于图像的机电响应材料。提示诱发的AC偏见应用机械响应适当的样本。悬臂可以推动和维护其接触共振或兴奋以固定的频率。
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这种技术地图样本的损耗角正切,能量损耗的能量的比例是存储为悬臂水龙头表面。
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调制,下面驱动悬臂共振而技巧是接触样本。的振幅响应示例刚度的悬臂的象征。
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这个模式使用开发模式的地形跟踪样品在液体(通常是电解质溶液)3-electrode电化电池。AFM探针不是电子电路的一部分,只有一个观察者的地形。外部稳压器监视器或驱动一个样品表面的电化学反应,以及由此产生的图像能帮助揭示表面构象变化应用偏差或时间的函数。
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TMnI,测量一个点被降落在样品表面,加热样品与探针和测量偏差。TMnI,用户可以理解的玻璃化转变温度(Tg)和熔化温度(Tm)在一个特定的点样本(通常是聚合物)。
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