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EX2技术-扩展QE从双AR传感器涂层

EX2技术-扩展QE从双AR传感器涂层

选定的iXon型号现在可使用新的双抗反射涂层应用于背光传感器,提供了量子效率性能的显著增强。

EX2技术可用于新的加速的iXon Ultra 897平台,以及iXon3 897和888型号,通过实施由传感器制造商e2v开发的新的双AR涂层工艺,有助于扩大背光传感器的QE范围。净效果是在蓝色和近红外波长区域提供显著提高的灵敏度,同时在其余可见区域保持~ 90%的QE。

背光EMCCD传感器QE曲线,比较标准“BV”中波段AR涂层与新型EX2双AR涂层。参考数据可在+20°C和-100°C传感器冷却温度。

条纹抑制传感器

选定的iXon模型现在在传感器设计中具有新的条纹抑制特性,减少了近红外(NIR)波长范围内单色成像可能产生的空间等距效应。

仿形是背光传感器特有的,是由前后平行传感器表面反射的干涉引起的。对于近红外应用,bob综合app官网登录例如玻色爱因斯坦凝聚体的成像,通常在~ 750nm范围内观察到更明显的等量化效应,有时会限制执行高完整性定量成像的能力。条纹抑制是指一种传感器设计上的修改,它可以显著降低等距效应的幅度。该设计已由传感器制造商E2V实施,并基于经过多年的CCD制造成功验证的可靠流程。条纹抑制可在ixonultra 897, iXon3 897和iXon3 888型号。

如欲了解更多,请参阅题为“新的EMCCD传感器增强:扩展QE和条纹抑制”。

类别:技术文章

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