PPP-QLC-MFMR

f = 75 kHz | k = 2.8 N/m |尖端涂层:软磁

点探针®+磁力显微镜-高质量因子-低矫顽力-反射涂层

NANOSENSORS™PPP-QLC-MFMR AFM探针通过软磁涂层将磁性样品的低扰动与q30k - plus系列超高真空条件下的高机械质量因子相结合。低矫顽力和超过35000的q因子使软磁样品的磁力显微镜和在特高压条件下的高操作稳定性。由于磁头涂层的矫顽力较低，磁头的磁化容易被硬磁样品重定向。

尖端的软磁涂层矫顽力为app. 0.75 Oe，剩磁强度为app. 225 emu/cm3(这些值是在平面上测定的)。

SPM探头具有独特的功能:

• 端部软磁涂层(矫顽力0.75 Oe，剩磁强度225 emu/cm3)
• 有效磁矩0.75倍标准探头
• 保证尖端曲率半径< 30 nm
• 磁分辨率优于35 nm
• 尖端高度10 - 15µm
• 探测器一侧的铝涂层使激光束的反射率提高了2.5倍左右
• 在特高压条件下具有良好的机械q因子，具有高灵敏度
• 硅支架芯片背面有对准槽
• 当使用校准芯片时，精确校准悬臂位置(在+/- 2µm内)
• 与PointProbe®Plus XY-Alignment系列兼容
  
  由于这两种涂层几乎无应力，由于应力引起的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。为了增强信号强度，建议在测量前通过强永磁体对尖端进行磁化。