SSS-FMR

f = 75 kHz | k = 2.8 N/m |尖端涂层:无

SuperSharpSilicon™-力调制模式-反射涂层

NANOSENSORS™SSS-FMR AFM探头设计用于力调制模式。
为了提高纳米结构和微粗糙度的分辨率，我们提供了无与伦比的锐利性SuperSharpSilicon™尖端。

FM型用于力调制显微镜。这种AFM探头的力常数跨越了接触和非接触模式之间的差距，并专门为力调制模式量身定制。ssss - fmr尖端还可作为磁性涂层(ssss - mfmr)高分辨率尖端的基础。此外，非接触或轻叩模式操作是可能的FM尖端，但降低了操作稳定性。

该探测器具有独特的功能:

• 保证尖端曲率半径< 5 nm
• 典型的尖端曲率半径为2纳米
• 距尖端200纳米处的典型长宽比为4:1
• 距顶点200 nm处的半锥角< 10°
• 单片材料
• 高度掺杂以驱散静电电荷
• 化学惰性
• 高机械q因子，高灵敏度