NanoRack样品拉伸阶段

从样本中提取新的信息NanoRack™。这种独特的样品阶段对可以同时用AFM观察到的中心区域的样品施加对称拉伸或压缩载荷。该工作台具有大范围实现高应变和集成测压元件，可测量高达80 N的高应力。(兼容木星XR AFM以及所有MFP-3D AFM的除了《起源》。)

• 高应变，高行程手动拉伸工作台提供两轴拉伸应力控制

• 返回应力和应变数据

• 可以在拉伸或压缩下使用

• 允许在不同负载下控制样本图像区域

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