AFM:探索点击模式和调幅调频

原子力显微镜（AFM）是一种高级工具，用于表征具有出色分辨率的样本表面。这避免了显微镜的光学方法，其中有利于扫描探针，其包括安装在悬臂上的极锋利的探针尖端。这是横跨表面扫描的光栅，以按串行方式测量预定义数量。利用原子力显微镜的分析师可以测量地形，摩擦学，纳米力学和热性能，电子特性等的离散位置。

接触模式原子力显微镜测量样品和探针尖端之间的相互作用，通过连续跟踪悬臂的自由端在光栅扫描期间流离失序。尖端与样品接触，电子反馈回路确保在扫描期间偏转保持恒定，记录样品表面形貌作为垂直运动的函数。

这可能是一个问题，因为尖端和样品之间的高侧向力会导致样品表面的损坏和探头尖端的钝化。新的原子力显微镜模式已经被开发来克服这个问题。

挖掘模式原子力显微镜

在挖掘模式AFM中，在恒定接触时不会在样品表面上扫描尖锐的探针尖端。相反，悬臂靠近其共振频率振动，导致尖端上下振荡。这意味着探头只能间歇地与表面紧密接触;因此标题。

接触模式原子力显微镜测量探针-样品的相互作用力作为悬臂梁偏转的函数，这是使用光电二极管检测的。在敲击模式下，交互作用以振幅的变化来测量。两者都使用受控反馈回路，以确保在光栅扫描期间恒定的针尖-样本交互力，以获得尽可能高分辨率的图像。轻敲模式原子力显微镜的主要好处是减轻破坏性的横向力。

攻丝模式的一个缺点是它不能测量直接力，因为锁定放大器只能报告与尖端相互作用有关的平均响应，作为力的函数。这创建了一个不稳定的反馈情况，其限制了可以获取和可靠地与特定样本属性相关的信息。然而，它仍然是原子力显微镜显微镜的主要成像模式。这主要是由于横向力成像的不微不足道的益处。

攻丝模式适用于无法承受常规接触探针高侧向力的脆弱样品的成像。准确而非侵入性地测量软质固体和有机组织的地形特征对于传统的操作模式来说是非常困难的。正常的攻丝模式有助于复杂样品的快速高分辨率表面成像，由于锐利的探针尖端的阻力，表面干扰很小甚至没有。

AM-FM粘弹性测绘与庇护研究

Asylum研究公司结合了常规攻丝模式原子力显微镜的固有优点和振幅和频率调制(AM-FM)，提供了一种独特的双模式，能够对复杂样品进行快速光栅扫描。这提供了地形成像与存储和损失模量的定量估计，以促进极其精确的粘弹性映射。

这已经增加了薄膜研发的新层面，具有普遍的额外应用领域。如果您想了解更多，请随时接触直接团队的成员。我们很乐意讨论攻丝模式原子力显微镜更详细地跟你说。

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