原子力显微镜是表面粗糙度测量的最佳工具吗？

原子力显微镜（AFM），也称为扫描探针显微镜（SPM），是许多行业中面积表面粗糙度测量的首选工具。新工艺正在产生光学和手写笔伪造者无法准确测量的较低冲突表面。下载我们的白皮书以学习：

• AFM与其他表面粗糙度测量工具的比较
• 现代AFM如何使面部表面粗糙度测量更简单，更快
• AFM不仅可以测量表面粗糙度参数（SA和SQ），还可以对表面纹理进行更完整的描述
• AFM在半导体，数据存储，玻璃和纸业中的使用方式

（免费下载，庇护研究的称赞，原子力显微镜的技术领导者）