庇护研究网络研讨会：庇护AFM工具，用于表征2D材料

描述

Epfl电气工程研究所和Keith Jones博士博士是您的主持人。他们讨论了AFM在2D材料研究和现有工具和技术中的积分作用，以成功地表征用于器件制造，能量存储和光电子的各种2D材料。了解用于映射物理性质的AFM模式，了解它们如何评估本地电气，机械和功能响应。他们还讨论了如何使用AFM来准确地确定2D材料的单层或多层的厚度，具有挑战普遍的误解。

包括以下研究结果：

• 二硫化钼（MOS₂)和石墨烯
• 机械性能测量
• 工作晶体管的开尔文探针成像(KPFM)
• 电气表征
• 对这些模式的详细讨论：
  • kpfm.
  • 压电响应力显微镜（PFM）
  • 导电AFM
  • 扫描微波阻抗成像(sMIM)

关于你的讲师:

Andras Kis是瑞士洛桑联邦理工学院(EPFL)、工程学院(STI)、电气工程研究所(IEL)的副教授，主要研究方向为二维材料的开发。他的团队展示了第一个基于二维半导体的晶体管。他拥有超过16年的AFM经验，包括63篇同行评议的论文，50多场科学会议的受邀演讲，并参加了许多2D材料和石墨烯会议的组织委员会。他还担任Nature Partner Journal《2D Materials and Applications》的主编。bob综合app官网登录在美国加州大学伯克利分校的Zettl实验室进行博士后研究。

Keith Jones是牛津乐器庇护研究（12年）的应用科学家。bob平台下载手机版他拥有超过18年的SPM经验，专门从事纳米电子表征，并且在开发和应用电气AFM技术方面是辅助的，例如掺杂剂分析和扫描微波阻抗显微镜。KEITH也是扫描阻抗显微镜专利的共同发明人，并共同撰写了34篇发布的论文。基思收到了他的美国。在弗吉尼亚英联邦大学的物理学中。