半导体
Fertigung, Charakterisierung和Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen

在dieem kostenlosen Webinar zeigen wir Ihnen, wie Sie Ätz-和Abscheidungstechniken bei der Herstellung von qualitativ hochwertigen Halbleiterbauelementen einsetzen können。

Ferner erläutern wir创新Bildgebungs- und分析技术,die zur Prüfung der Eigenschaften von Halbleiterbauelementen dienen。

Schließlich behandeln wir Techniken zur identifiierung von bauteildefkten und zur Fehleranalyse。

Sie lernen werden:

✅魏曼的等离子技术在我们的生命中
✅我们的人死于幸福Ätz-和幸福
✅魏曼Rafterkraftmikroskopie (AFM)和能量色散Röntgenspektroskopie (EDS) zur Prozesskontrolle和Fehleranalyse einsetzt
✅werden(德国,德国,德国

德国Ihr Vetriebsteam:

  • 弗洛里安·约翰博士,牛津仪器精神病院技术bob平台下载手机版公司
  • Marc Sellschopp,牛bob平台下载手机版津仪器等离子技术公司
  • 多米尼克·齐默博士,牛津仪器纳米分析bob平台下载手机版
对需求
时间:

对需求

持续时间:

45分钟

语言:

德国

bob综合app手机客户端企业:

等离子体技术,庇护研究,纳米分析

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