2015年8月10日
推出革命性的SDD - X-Max Extreme
bob平台下载手机版牛津仪器公司，微分析系统的世界领导者，推出了X-Max Extreme，这是一款硅漂移探测器，有望成为超高分辨率FEG和FIB-SEM应用的突破性解决方案。bob综合app官网登录这种独特的探测器首次能够在非常低的kV(例如在1kV和3kV之间)和非常短的工作距离下收集EDS数据，在用于分析纳米材料和表面的最高SEM分辨率的条件下提供元素分析。
最新的超高分辨率feg - sem为研究更小的纳米结构、界面和表面提供了令人兴奋的新功能。然而，在使用透镜内探测器的新电子信号对比的操作条件下——非常短的工作距离、非常低的kV和最小的束流——没有传统的SDD能够提供支持的元素特征。新的X-Max Extreme改变了这一点。X-Max Extreme是基于一个无窗的100mm2探测器;它采用激进的几何形状，以实现在短工作距离下的数据采集。使用X-Max Extreme，可以同时进行成像和EDS性能，EDS分辨率接近SEM。
X-Max业务经理Simon Burgess博士表示:“X-Max提供的解决方案超越了传统的微纳米分析。例如，极端的灵敏度允许用户描述表面污染物的组成和分布，以及几个原子厚的层。它还能探测到轻元素，包括锂。”
X-Max Extreme于8月在俄勒冈州波特兰市的M&M 2015年推出，并在展厅进行了演示。
