粒子分析和识别

ParticleScout提供了最灵活和有用的样本调查功能。

• 固有共焦白光显微镜:亮场/暗场，透射/反射。
• 可选择的目标:样本调查和拉曼测量可以利用各种目标类型，例如初始概述和随后的高分辨率拉曼分析。
• 图像拼接:多个样本区域的扫描可以合并为一次测量，以广泛分布的粒子的大面积概述。
• 集中堆放:这种独特的能力极大地增加了尖锐和明确的粒子成像的焦点深度。

先进的分类工具使相关粒子的选择变得前所未有的容易。

用户定义的粒子形状和大小分类提供了广泛的属性访问。

• 分类可以根据:面积，周长，包围框，最大。Feret直径，最小Feret直径，纵横比，等效直径等。
• 应用布尔过滤器进行精确分组。
• 自动创建掩模用于后续拉曼分析。

全面的报告算法使ParticleScout成为寻找粒子物理和化学属性之间相关性的完美工具。

用户可选择的过滤器组合可以突出显示相关的粒子组，以显示它们的数量和相对于其他组的流行程度。报告生成的这种定制程度增强了有针对性调查的效果。从大面积成像到高分辨率光谱，ParticleScout技术为研究人员提供了全面而详细的见解。