最近的博客文章学会看更多而且不仅仅是比较强调了使用相关分析方法的一些好处，结合来自多种类型显微镜的数据来增强我们对样品的理解和结果的解释。在进行任何形式的相关显微镜的持续挑战之一是捕获同一区域的图像，特别是当你可能使用不同的放大倍数，当样品的方向可能在显微镜之间改变时。
我们的新相关软件重点介绍了使用电子显微镜(EM)和原子力显微镜(AFM)收集的数据的相关性。在计划使用这些类型的显微镜进行相关实验时，有几个问题需要考虑，这在一定程度上也取决于被成像的样品的类型。虽然AFM分析可以在液体和空气环境中进行，但样品在EM中暴露在真空中，因此在放入显微镜之前必须完全干燥。用电子束成像的样品在成像过程中通常会在其表面形成一层薄薄的碳，或者在成像之前可能需要某种形式的导电涂层，这些层可能会影响AFM探针和您可能进行的任何测量。样品准备和计划你的实验是成功的相关显微镜的关键，问以下问题是有用的。
- 在使用任何一种显微镜之前，您会为两种成像环境准备样品吗?还是先用一种显微镜成像，然后调整样品以适应下一种成像方式?这将如何影响样本?
- 哪种类型的成像将首先用于您的样品，这将如何影响第二次显微镜成像条件?
一旦确定了样品制备和成像顺序，就必须确定在样品上找到相同区域所需的策略。有几种方法可以使用。
作为参考点的特性
这可能是寻找相似区域最常见也是最简单的方法。特征将需要在显微镜所能达到的最低放大倍率下可见，并且使用两种类型的显微镜都可见。所使用的特征可以是样品的一部分，也可以是样品内的缺陷/裂纹，可以用作指导。注意使用可能移动的特征，例如可能积聚在样品表面的灰尘颗粒。
通常情况下，基于样品的特征在一种类型的显微镜中比另一种更明显。下图显示了一个例子，在CCD图像(左)中很明显的线条在EM图像(中)中很模糊，在AFM图像(右)中更明显一些。
添加或创建基准
可能并不总是可以使用样本的特征，特别是当它们难以使用一种成像来观察时。在这种情况下，添加基准标记可以帮助找到特定的区域。基准标记是放置在样本上或样本内的物体，在两种成像模式中都可见。理想情况下，基准标记物将以某种方式绑定到样品上，这样当样品在显微镜之间运输时，基准标记物就不会移动。一个例子是在生物样品中使用量子点进行相关的光和电子显微镜。如果没有明显的标签，可以通过蚀刻或在样品上沉积图案来创建基准，例如，使用聚焦离子束扫描电子显微镜。
指南和标记
另一种帮助在显微镜之间定位感兴趣区域的方法是使用某种形式的引导。探测器网格可以粘在样品表面，或者有相关的显微镜EM存根，样品可以安装在上面。
最佳的解决方案将取决于您的样品以及设备、技术和材料的可用性。技术的组合可能是最好的解决方案，例如使用相关的SEM存根在较低的放大倍率下找到感兴趣的区域，然后在获得较高分辨率的成像时使用样本特征。
一旦你收集了你的数据，你就需要分析它。要了解更多关于我们的相关数据分析和可视化解决方案，请参阅我们的网页联系或观看我们的简短网络研讨会按需观看．
