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OmniProbe 350

OmniProbe 350是一款三轴、端口安装的机械手,具有闭环反馈的压电电机,非常适合常规TEM片层制备。精确和直观的控制意味着您可以快速和自信的工作,而没有损坏或样品丢失的风险。


    要求定价添加到报价表中

    根据我们的9thOmniProbe 350通过紧凑的端口安装足迹提供精确的纳米级控制,最大限度地减少与其他探测器和附件的干扰。通过稳定的探针平台和亚纳米压电电机,我们当前一代的探针具有低振动、低漂移和卓越的定位精度,这与我们直观的用户界面相结合,其中运动方向是根据图像校准的。

    OmniProbe 350具有一流的常规提升性能,当与可变倾斜网格支架结合使用时,OmniProbe 350可以创建平面视图和TKD样本,而无需直接处理网格或复杂的多级提升。

    下载中心

    OmniProbe 350

    了解为什么OmniProbe 350是一流的3轴纳米操作器,用于快速和高效的常规TEM片层制备

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    优越的线性-线性度是探针尖端偏离所要求的运动方向的量度。沿直线向各个方向移动的探测器可以:

    • 安全吊出,不会撞到壕沟的一侧
    • 使用更小的磨沟更快地生产TEM薄片

    直观的用户界面哪里的控制直接反映了电子图像中探针的运动

    光滑的连续动作-薄片制备工作流程要求探头与样品进行物理接触并平稳运动,以确保这一过程不会有掉落或损坏样品的风险。

    精确的运动与存储位置

    • 从完全缩回移动到操作位置与一个单一的点击
    • 保存用户定义的工作位置

    稳定探测平台-稳定性是振动和漂移的结合。将样品附着到探针尖端是通过气体沉积过程完成的,这可能需要几分钟。在此过程中,针尖的任何漂移或振动都可能导致试样内部的应力或试样在其被切割自由点的突然运动

    • 稳定的Omniprobe平台最大限度地减少了闲置时的振动和漂移,降低了这些风险

    端口安装设计完全缩回腔内时,不使用,所以没有妥协,你的显微镜

    • 样本量不限
    • 舞台倾斜不受限制
    • 不干扰其他探测器或附件

    进行电气连接包括+/-10V电源,用于电压对比度成像

    • 低噪声选项可结合第三方电子执行EBIC, EBAC,和其他电气测试方法。

    使用下面方便的比较表来帮助您为您的应用程序选择最佳的OmniProbe并比较规范。

    规范 OMNIPROBE
    低温 OmniProbe 350 OmniProbe 400
    线性 500海里 500海里 250海里
    编码器的分辨率 < 50纳米 < 50纳米 10纳米
    插入可重复性 15μm * 5μm 2μm
    最小速度 50 nm /秒 50 nm /秒 10 nm /秒
    最大速度 250μm / s 250μm / s 500μm / s
    Compucentric旋转
    集成温度传感器
    应用程序
    网站具体提升式
    建立过程 P P
    发泄免费建立过程
    背面稀疏 P
    原子探针层析成像样品制备 P P
    低温liftout
    电压对比成像
    电荷中和
    剑尖分析
    EBIC测量 O O
    EBAC测量 O O
    原位提示改变 O

    P:需要一个OmniPivot支架O:可选*在恒定温度下

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