氮化镓铝是一种在下一代RF设备中使用的重要性。AlGaN是一种硬质材料,可以用光致抗蚀剂或硬掩模使用干蚀刻电感耦合等离子体(ICP)和活性离子蚀刻(RIE)。
AlGaN / GaN异质结构的电子特性用于诸如HEMT的装置中的RF器件,也称为HFET。我们对HEMTS的加工解决方案重点是控制2°处引入最低缺陷的状态密度。
通常接通和关闭操作是指当在栅极处施加的电压为0V时,2DEG通道能够从源导电到漏极到漏极。2deg通道如下所示。
为了阻止电流从源极流向漏极,电子的集中必须在2DEG中局部中断。2DEG沟道是由GaN和AlGaN之间的带隙和极化差异造成的。此外,由于氮化镓的压电特性,两层界面上由于晶格失配而产生的机械变形会产生额外的极化。
为了在局部抑制2deg,流行的技术是凹陷栅极。因此,存在在肖特基栅极下方的耗尽区更靠近2deg并降低电子的浓度。还开发了其他技术以实现常关操作。
D模式中的2DEG形成AlGaN / GaN Hemts
来源:苏黎世联邦理工学院