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扩张

PlasmaPro 80 ICP RIE

PlasmaPro 80 ICP RIE是一种紧凑、占地面积小的系统,提供多功能的ICP蚀刻解决方案,方便开放加载。它易于现场和易于使用,没有妥协的过程质量。开式加载设计允许快速加载和卸载晶片,是研究、原型和小批量生产的理想选择。它使用优化的电极冷却和优良的基片温度控制实现高性能的工艺

  • 开式加载设计,可快速加载和卸载晶片
  • 优异的蚀刻控制和速度测定
  • 良好的晶片温度均匀性
  • 最多200毫米的晶圆
  • 拥有成本低
  • 构建于SEMI S2 / S8标准


要求定价添加到报价表中

  • III-V腐蚀过程
  • 硅博世和冷冻蚀刻流程
  • SiO2和石英腐蚀
  • 故障分析干蚀刻除去从包装芯片和模具蚀刻到全200mm晶片蚀刻
  • 高亮度LED生产的硬掩模沉积和蚀刻
除去顶部介电层,暴露四个金属层

    除去顶部介电层,暴露四个金属层

    除去顶部介电层,暴露四个金属层

    除去顶部介电层,暴露四个金属层

    ICP65中的低损伤FA蚀刻

    ICP65中的低损伤FA蚀刻

    • 占用空间小- 易于现场
    • 优化电极冷却-衬底温度控制
    • 高导径向(轴对称)泵浦结构—保证增强的过程一致性和速率
    • 添加<500ms数据记录- 可追溯性和腔室和工艺条件的历史
    • 紧耦合涡轮泵-泵送速度快,基压好
    • 对关键组件的访问非常容易- 改进的可维护性和维护
    • X20控制系统- 大大增加数据检索并提供更快,更可重复的匹配
    • 通过前端软件故障和工具诊断—快速故障诊断
    • 使用干涉测量法的激光端点检测- 在反射表面(例如,Si上的氧化物)上的透明材料中的蚀刻深度,或用于非透明材料(例如金属)的反射仪以确定层边界
    • 光学发射光谱法(OES)用于大样品或批量过程末端指向- 检测反应气体物种的蚀刻副产品或耗尽的变化,以及腔室清洁端指向
    下载手册

    全球客户支持

    bob平台下载手机版牛津工具致力于提供全面,灵活可靠的全球客户支持。我们在整个系统中提供优质的服务。

    • 远程诊断软件提供快速且易于故障的诊断和分辨率。
    • 支持合同可根据预算和情况提供。
    • 在战略位置提供全球备件,快速响应。
    了解更多

    新:PTIQ软件

    PTIQ是针对PlasmaPro和Ionfab加工设备的最新智能软件解决方案。

    • 异常灵敏的系统控制
    • 优化系统和过程性能
    • 不同级别的软件适合您的要求
    • 全新直观的布局设计
    了解更多

    即将来临的事件

    最新消息