阅读更多关于ALD如何优化GaN功率器件的信息白皮书.
等离子ALD Al2O3 |
规范 |
片内厚度均匀性 | <±1.0% |
薄片厚度可重复性 | <±1.0% |
击穿电压 | ≥7.0 MV /厘米 |
用于功率转换和传输的新型氮化镓电力电子产品正在开发中。氮化镓的高迁移率和高击穿电压使其成为理想的功率器件材料。有几种策略来创建这样的器件,使用AlGaN的凹槽蚀刻是一个突出的策略。此外,还需要栅极介质层来限制泄漏电流。
从2019年7月开始随时观看本次网络研讨会。我们的ALD专家,Aileen O'Mahony博士为GaN提供了ALD的大师课程。我们着眼于如何实现优良的均匀性,优化的工艺条件,低基片损伤,高材料质量,优越的器件性能和共形沉积。本次网络研讨会还包括对Atomfab ALD系统的介绍。